Questões de Concurso

Deformação axial simétrica (1); deformação axial assimétrica (4); deformação angular simétrica (2); deformação simétrica fora do plano (3).

Deformação axial simétrica (1); deformação axial assimétrica (4), deformação angular simétrica (2) e deformação assimétrica fora do plano (3).

Deformação axial simétrica (4); deformação axial assimétrica (1), deformação angular simétrica (2) e deformação assimétrica fora do plano (3).

Deformação angular simétrica (1); deformação angular assimétrica (2); deformação axial fora do plano (6). 

Deformação axial simétrica (1); deformação axial assimétrica (2); deformação angular fora do plano (3); deformação simétrica dentro do plano (4).

30,0 µm.

3,0 µm.

1,3 µm.

13,0 nm.

13,0 µm.

Obter um difratograma de raios X da amostra utilizando um difratômetro de raios X, analisar os picos obtidos (posição 2? e intensidade do pico), identificar as fases usando o ICDD (International Centre for Diffraction Data). As fases obtidas indicam a composição qualitativa da amostra e somente a análise de Rietveld pode dar informações qualitativas.

Obter um difratograma de raios X da amostra utilizando um difratômetro de raios X, analisar os picos obtidos (posição 2? e intensidade do pico), identificar as fases usando o ICDD (International Centre for Diffraction Data). As fases obtidas indicam a composição qualitativa da amostra e somente a análise de Rietveld pode dar informações quantitativas.

Obter um difratograma de raios X da amostra utilizando um difratômetro de raios X, analisar os picos obtidos (posição 2? e intensidade do pico), identificar as fases usando o ICDD (International Centre for Diffraction Data). As fases obtidas indicam a composição qualitativa da amostra, e a largura dos picos a meia altura é usada em sua análise quantitativa.

Obter um difratograma de raios X da amostra utilizando um difratômetro de raios X, analisar os picos obtidos (posição 2? e intensidade do pico), identificar as fases usando o ICDD (International Centre for Diffraction Data). A altura ou intensidade relativa dos picos é usada para determinar as fases presentes, e a largura dos picos a meia altura é usada na análise quantitativa da amostra.

Obter um difratograma de raios X da amostra utilizando um difratômetro de raios X, analisar os picos obtidos (posição 2? e intensidade do pico), identificar as fases usando o ICDD (International Centre for Diffraction Data). As fases obtidas indicam a composição qualitativa da amostra, e a intensidade relativa dos picos é usada em sua análise quantitativa.

Técnica que combina a microscopia eletrônica de varredura e de transmissão para obter informações em diferentes escalas de comprimento; (I) SEM e (II) TEM.

Técnica que combina a microscopia eletrônica de varredura e de transmissão para obter informações em diferentes escalas de comprimento; (I) TEM e (II) SEM.

Técnica que combina a microscopia óptica, geralmente na região do infravermelho, com a microscopia eletrônica para obter informações em diferentes escalas de comprimento; (I) SEM e (II) TEM.

Técnica que combina a microscopia óptica, geralmente com fluorescência, com a microscopia eletrônica para obter informações em diferentes escalas de comprimento; (I) SEM e (II) TEM.

Técnica que combina a microscopia óptica, geralmente de fluorescência, com a microscopia eletrônica para obter informações em diferentes escalas de comprimento; (I) TEM e (II) SEM.

Método computacional usado para analisar dados de difração de raios X de materiais não cristalinos, para obter informações detalhadas sobre a morfologia e outras propriedades do material. O método compara um perfil de difração teórico com o perfil experimental, refinando os parâmetros estruturais do modelo até que haja uma boa concordância entre os dois perfis.

Método computacional usado para analisar dados de difração de raios X de materiais cristalinos, para obter informações detalhadas sobre a estrutura cristalina e outras propriedades do material. O método compara um perfil de difração experimental de referência com o perfil experimental estudado, refinando os parâmetros estruturais do modelo até que haja uma boa concordância entre os dois perfis.

Método computacional usado para analisar dados de difração de raios X de materiais cristalinos, para obter informações detalhadas sobre a estrutura cristalina e outras propriedades do material. O método compara um perfil de difração teórico com o perfil experimental, refinando os parâmetros estruturais do modelo até que haja uma boa concordância entre os dois perfis.

Método computacional usado para analisar dados de difração de raios gama de materiais cristalinos, para obter informações detalhadas sobre a estrutura cristalina e outras propriedades do material. O método compara um perfil de difração teórico com o perfil experimental, refinando os parâmetros estruturais do modelo até que haja uma boa concordância entre os dois perfis.

Método computacional usado para analisar dados de difração de raios gama de materiais cristalinos, para obter informações detalhadas sobre a estrutura cristalina e outras propriedades do material. O método compara um perfil de difração experimental de referência com o perfil experimental estudado, refinando os parâmetros estruturais do modelo até que haja uma boa concordância entre os dois perfis.