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Sobre aspectos da análise de Espectroscopia Eletrônica de Fótoelétrons (XPS), analisa as afirmativas abaixo e assinala V para as verdadeiras e F para as falsas.
( ) Os deslocamentos químicos dos picos de energia de ligação são frequentemente usados para identificar diferentes estados de oxidação de um elemento porque, ao oxidar, o átomo perde elétrons, reduzindo a blindagem da carga nuclear sobre os elétrons remanescentes.
( ) A profundidade de análise do XPS é limitada a poucos nanômetros (tipicamente 1–10 nm), dependendo da energia cinética dos elétrons emitidos e do caminho médio livre desses elétrons.
( ) Ao se reduzir o ângulo de emissão (análise em modo raso), aumenta-se a sensibilidade à superfície, pois os elétrons que emergem de maiores profundidades têm menor chance de serem absorvidos.
( ) Picos satélites (shake-up) podem causar sobreposição de picos, dificultando a deconvolução e a análise quantitativa. Esses picos aparecem no espectro quando a amostra contém compostos com elementos que possuem orbitais d ou f parcialmente preenchidos.
( ) Em amostras isolantes, a emissão de elétrons leva a uma carga positiva acumulada, que atrai os elétrons emitidos subsequentes, aumentando suas energias de ligação aparentes.
A ordem CORRETA de preenchimento dos parênteses, de cima para baixo, é:
A fim de se determinar a dureza, ou seja, a concentração de CaCO3 (massa molar igual 100 g/ mol) de uma amostra de água, pipetou-se 100,00 mL de uma amostra, que foi transferida para um erlenmeyer de 250,00 mL. Na capela foi adicionado 2,00 mL de uma solução tampão de hidróxido de amônio/cloreto de amônio e uma ponta de espátula do indicador negro de eriocromo T. A solução foi titulada com uma solução previamente padronizada de EDTA 0,0200 mol/L. O volume gasto na titulação foi de 5,00 mL.
Em relação ao grau de dureza, essa água analisada é
Sobre esse procedimento, é correto afirmar que