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Qual dos detectores a seguir deve ser utilizado no
microscópio eletrônico de varredura para se realizar análise
de superfície tridimensional da amostra e para aquisição
de imagem com contraste de composição química da
amostra, respectivamente?
Analise as afirmativas a seguir sobre o microscópio
eletrônico de varredura.
I. A topografia da amostra e o ângulo no qual o feixe de elétrons a atinge interferem no contraste de imagens geradas por elétrons secundários.
II. A fonte de elétrons termiônica gera feixe de elétrons mais coerente e com maior brilho do que o canhão de elétrons de emissão de campo (FEG – “Field Emission Gun”).
III. Diferenças no número atômico da amostra interferem na detecção de elétrons retroespalhados.
IV. As lentes eletromagnéticas do MEV controlam o diâmetro do feixe de elétrons.
Está(ão) correta(s) a(s) afirmativa(s)
I. A topografia da amostra e o ângulo no qual o feixe de elétrons a atinge interferem no contraste de imagens geradas por elétrons secundários.
II. A fonte de elétrons termiônica gera feixe de elétrons mais coerente e com maior brilho do que o canhão de elétrons de emissão de campo (FEG – “Field Emission Gun”).
III. Diferenças no número atômico da amostra interferem na detecção de elétrons retroespalhados.
IV. As lentes eletromagnéticas do MEV controlam o diâmetro do feixe de elétrons.
Está(ão) correta(s) a(s) afirmativa(s)
Sobre as definições de elementos relacionados ao
microscópio eletrônico de varredura, assinale com V as
afirmativas verdadeiras e, com F, as falsas.
( ) Distância de trabalho (WD - Working Distance) é a distância entre a parte inferior da lente condensadora final e o estágio do microscópio.
( ) Profundidade de campo refere-se à profundidade da amostra que aparece em foco na imagem.
( ) Dwell time refere-se ao tempo em que cada ponto na amostra é exposto ao feixe de elétrons.
( ) Magnificação é o comprimento da linha varrida na amostra dividido pelo comprimento da linha na imagem.
( ) Astigmatismo é uma distorção no feixe de elétrons que faz com que o spot deste seja elíptico, prejudicando a nitidez na imagem.
Assinale a sequência correta.
( ) Distância de trabalho (WD - Working Distance) é a distância entre a parte inferior da lente condensadora final e o estágio do microscópio.
( ) Profundidade de campo refere-se à profundidade da amostra que aparece em foco na imagem.
( ) Dwell time refere-se ao tempo em que cada ponto na amostra é exposto ao feixe de elétrons.
( ) Magnificação é o comprimento da linha varrida na amostra dividido pelo comprimento da linha na imagem.
( ) Astigmatismo é uma distorção no feixe de elétrons que faz com que o spot deste seja elíptico, prejudicando a nitidez na imagem.
Assinale a sequência correta.
